本文簡要介紹了三軸管試驗屏蔽性能的原理，包括測試不同電纜結構的屏蔽性能，分析電纜結構對屏蔽衰減的影響。傳輸阻抗。
　　們得出結論，編織層的數量越多，屏蔽的衰減越好，第四層的第四層主要影響低頻傳輸阻抗和屏蔽衰減?？楇娎|關鍵字;屏蔽衰減;傳輸阻抗;具有前置管的三軸管方法隨著電子技術的快速發展，用作信號傳輸的支持的電纜也可以發射信號或受到外部信號的干擾，產生失真信號。
　　著頻率的增加，電纜和元件的屏蔽要求也會增加。蔽的衰減基本上依賴于電纜的屏蔽層，通常由銅制成，由鋁管制成的外導體或編織的外導體結構，通常用于CATV中。
　　同類型的外導體對屏蔽性能也有很大影響：本文研究了不同編織外導體結構對最終屏蔽性能的影響。

　　試電纜和測試方法編織電纜結構的表示同軸編織電纜結構包括內導體，絕緣材料，屏蔽層和護套。號在內導體和屏蔽層之間傳輸。
　　據屏蔽層的結構，編織紗線通常分為標準屏蔽，三層屏蔽和四層屏蔽。蔽性能測試原理屏蔽性能測試方法目前主要包括三軸法，線注入法，吸收鉗法，GTEM室法[1]。
　　Triax可以同時測試元件的傳輸阻抗和屏蔽衰減。態范圍寬，測試極限可達-120 dB。
　　文件采用三軸試驗方法[2]中的管中管試驗。于某些RF連接器或短電纜組件，三軸方法的截止頻率將非常高，并且只能通過增加電纜組件的長度來增加測試屏蔽的效率[3]。此，擴展的三軸法在IEC 62153-4-7中規定 - 管中管法可以測試不同長度的屏蔽效率。管管方法中，使用金屬延伸管調節被測組件的電氣長度以延長測試組件的電氣長度，并且在低頻范圍內，屏蔽衰減也可以測量[4-5]。蔽的有效性也在國際上進行評估。2000-3000MHz結果與分析四層屏蔽電纜，三層屏蔽電纜和標準屏蔽電纜以相同方式組裝，配有合適的墊片，平均電纜長度為1.5 m， F接頭將樣品置于三軸測試系統中，以5MHz至3000MHz的頻率進行測試。試結果是：為了清楚地比較每個報告的具體值，每個范圍進行排序的最壞值和統計如下：從視圖數據的點，屏蔽罩的性能四層是最好的，可以達到類++的水平。三層屏蔽中，整體屏蔽性能下降，傳輸阻抗為1.5 mOhm / m，中頻和高頻對比度測試圖像顯著減少，最大從2000到3000 MHz，從30到2000 MHz低。
　　大標準屏蔽表明，與三層屏蔽層和四層屏蔽層相比，屏蔽性能顯著降低，傳輸阻抗降至4 mOhm / m，遠低于屏蔽層。30-1000 MHz比四層屏蔽低20 dB，1000.~3000 MHz的下降不是很大，只有3~5dB。
　　據分析表明，四層屏蔽性能最好，標準屏蔽電纜屏蔽性能最差，三層屏蔽性能居中。層屏蔽和三層屏蔽結構對比，附加編織層，傳輸阻抗為0.9 mOhm / m，三層屏蔽比鋁箔多一層標準屏蔽，礦用電纜傳輸阻抗為2.5 mOhm / m;因此，在1000~3000 MHz的高頻屏蔽衰減中，屏蔽的衰減變化很小，表明第三層鋁箔和第四層編織線沒有多少效果，而高頻主要是第一層鋁箔和第二層編織。
　　用，繼續增加屏蔽層對高頻不是很有效。論電纜屏蔽層數越多，屏蔽效果越好。一屏蔽層和第二層基本上決定了高頻屏蔽衰減，第三層屏蔽的第三層主要影響低頻傳輸阻抗和屏蔽衰減，以及層的增加。
　　蔽可以顯著改善低頻傳輸阻抗?？嘉墨I[1]尹海成，朱榮華，射頻同軸電纜屏蔽方法比較[J]，光纖與光纜，應用技術，2010，（2）：19-22。[2]尹瑩。軸“中管”測試技術及小型器件的電磁性能測試[J]。線電纜，2016，（2）：36-39。[3]劉時珍?？椡S射頻電纜的屏蔽效能[J]。輸線技術，（2）：001。4]張琦，施麗華，張翔等，電纜屏蔽效能評估方法的比較研究[J]。子和核探測技術，2012年，32（4）：421?428 [5]培明楊露Tiebing，齊累，和編織屏蔽電纜的傳輸阻抗的其他計算[C]會議電氣理論與新技術會議：電氣理論與新技術年會論文集保定：華北電力大學電氣工程學院，2005：318-321。
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